Nanostar

Nanostar

En İyi Sonuçlar İçin Modüler Dizayn

Eşsiz modülleri ile NANOSTAR, 1 nm'den 125 nm'ye kadar değişken bir aralıkta nanoyapıların karakterizasyonu için en ideal SAXS sistemidir. Bu yapı analizlerinde SAXS, GISAXS ve Nanography yöntemlerini kullanmaktadır. Pinhole Collimination sistemi sayesinde yüksek şiddetli sinyal alabileceğiniz parallel x-ışınları elde edilmektedir ve bu sayede analiz süreleri de kısalmaktadır. Aynı zamanda bu kolimatör sistemi background eliminasyonu yapmakta ve düzgün dairesel bir x-ışın demeti eldesi sağlamaktadır. Bu nedenle büyük numune analizi mümkün olduğu kadar zayıf saçılımlı numunelerde bile yapısal inceleme yapmak mümkündür. Nanostar, izotropik olmayan numelerin de saf numune özelliklerini analiz edebilmektedir.

Modüler tasarımı, dedektör-numune mesafesini 11.5 mm'den 1070 mm'ye kadar ayarlamaya izin vermektedir. Böylelikle SAXS’tan WAXS’a bütün aralığı kapsamaktadır.


Özellikler:


• Tüm esnekliklere göre modüler kurulum ve tasarım

• Mükemmel X-ışın kaynakları: IµS, TXS ve METALJET

• Scatex ya da Three Pinhole setup: Düşük background eldesi için

• Farklı örnek tutucuları barındıran geniş numune haznesi

• Mükemmel X-ışın kaynakları: IµS, TXS ve METALJET

• Net foton sayımı yapabilen geniş pencereli Vantec 2000 dedektör

• Değiştirilebilen numune-dedektör mesafesi