M2 BLIZZARD

M2 BLIZZARD


Bu mikro XRF özellikle ASTM B568 ve DIN/ISO 3497 standartlarına uygun olarak baskı devre kartlarının analizi için tasarlanmıştır. Oluklu numune haznesi ve geniş tablası büyükten küçüğe her boyutta baskı devresinin analiz edilmesini olanak verir ayrıca sağlam yapısı ile de atölyede kullanmaya elverişlidir.

M2 BLIZZARD, daha ince tabakaların ve bilinmeyenlerin yanı sıra rutin analizler için uygun yüksek performanslı bir silikon drift detektörü ile donatılmıştır. Güçlü video mikroskop sistemi otomatik odaklama işlevi sağlar.
Bruker’in XSpect Pro ve XData yazılım paketlerinin en son sürümüyle donatılmış olan M2 BLIZZARD, baskı devrelerde yaygın olan metal çok katmanlıların analizi için özellikle caziptir. Her biri 25 elemente kadar 12 tabakadan oluşan tabaka sistemleri, kompozisyon ve kalınlık bakımından karakterize edilebilir.
Deneyimli supervisorler, analiz edilecek numunelere ince ayarlanmış ölçüm yöntemlerini tanımlamak için yazılımın yapılandırılabilirliğini kullanabilirler. Bu yöntemler daha sonra kalite kontrolüne yönelik gerçek analizleri gerçekleştirmek için üretim sahasındaki personel tarafından rutin olarak kullanılabilir. Bu analizlerin kurulması ve gerçekleştirilmesi öngörüseldir dolayısı ile personele basit eğitim yeterli olacaktır. Yazılımın PASS/FAIL kontrolü veya üst-alt limit eğilimleri, operatörün örneğin Kabul edilebilir kalitede olup olmadığını hızlıca görmesini sağlar. Raporlama ve veri arşivleme işlevleri de dahil edilmiştir ve veriler Excel'e aktarılabilir.

Teknik Detaylar:

Bruker’in M2 Blizzard mikro XRF spektrometresinin ana amacı baskı devrelerinin tahribatsız şekilde analiz edilmesidir. Cihaz yapısı ile büyük yada küçük baskı devrelerin güvenlice araştırılmasına olanak sağlar. Güçlü XSpec Pro yazılımı ASTM B568 ve DIN / ISO 3497 standartlarına uygun olarak katı numunelerin kompozisyon analizini ve çok katmanlı örneklerde kalınlığın doğru tespitini destekler.